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二维材料缺陷表征利器——针尖增强近场光谱技术

人阅读 发布时间:2020-06-10 15:22

继二维材料——石墨烯的研究浪潮之后,二维过渡金属硫属化合物(TMDs)材料因其纳米尺度的新特性,引发广泛关注,并在光电器件、催化、成像与治疗、传感等许多领域都表现出广泛的应用前景。 

TMDs材料较高的光学量子产率和独特的激子效应让它备受关注,但材料缺陷问题(如晶界、褶皱、成分偏析、边缘等)也对其局域激子行为、晶格振动以及局域光电特性等产生了影响。

 

为解决这一问题,科研人员们不断对TMDs材料的纳米结构进行表征探索。在这一过程中,超分辨针尖增强近场光谱技术在纳米尺度表征的优势,让它成为TMDs材料研究的绝佳工具,它能够帮助研究人员以全新视角理解TMDs纳米结构。

 

 

6月19日HORIBA 2020在线讲座第7集,我们就邀请了杭州电子科技大学——苏伟涛教授,为大家介绍如何利用针尖增强近场光谱技术,来对TMDs材料的缺陷和纳米结构进行研究,以及目前这一研究领域研究都有哪些最新进展。相信这场讲座定能够帮助大家更好的了解TMDs材料和这一表征技术

 

 

 

6月19日 14:00

前往微信公众号“HORIBA 科学仪器事业部”

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0619苏伟涛海报.png

 

 

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