依托于拉曼光谱领域的先进技术，HORIBA 科学仪器事业部在TERS成像方面取得了飞速发展，并完成了新一代的解决方案，即通过自动化操作，集成稳定的光路和高收集效率，为用户提供纳米尺度的化学信息成像。
 

针尖增强拉曼（TERS）技术通过将拉曼光谱仪和扫描探针显微镜结合起来，以获取纳米尺度下的分子结构信息。长期以来，TERS一直面临着测试时间长、光路难以稳定、收集效率低等困难，即使是最近几年，很多TERS系统也无法真正解决这些问题。
 

为此，HORIBA 科学仪器事业部与AIST-NT合作，专门进行AFM-Raman联用系统的开发，使得TERS成为一种常规的分析方法，也解决了用户在系统联用时协调不同厂家的苦恼。以HORIBA的XploRA Nano系统为例，它集成了HORIBA的XploRA PLUS拉曼光谱仪和AIST-NT的Smart SPM原子力显微镜，采用顶部、侧向光路，自动化操作，为TERS测试提供整体解决方案。
 

近两年，在全球许多会议和展会现场，HORIBA 科学仪器事业部都会进行TERS测试展示。最近在圣地亚哥召开的国际光学工程学会（SPIE）会议上，XploRA Nano在现场完成了单根碳纳米管的TERS成像，空间分辨率更是达到了8nm（如下图所示）。
 

图片说明：单根碳纳米管TERS成像，空间分辨率达到8nm，总积分时间小于10分钟。

图片来源：采集于国际光学工程学会会议（SPIE）展台，2015年8月11日。
 

“整个测试环境就是在SPIE的展台处，现场既没有主动减震平台，也没有隔离罩，条件远远比不上实验室环境。最右面的TERS成像，扫描范围为100nm×100nm，步长1.3nm，每点采集时间是100毫秒，总成像时间不到10分钟。”HORIBA 科学仪器事业部的AFM-Raman全球产品经理Marc Chaigneau博士进一步做了解释：“这个图像中D峰的强度（其中白色和绿色的部分）代表了碳管的缺陷结构；而红色对应于2D峰强度，表示了结构良好的部分。大家可以留意一下红色指标处，仅仅改变了1.3nm左右，D峰强度就产生了显著的变化。”
 

更多高性能、易操作的整体TERS系统，请点击：www.horiba.com/raman-afm

关于SPIE

国际光学工程学会（Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers，SPIE）在学术界影响较大，是该领域最有权威的国际组织。会员为科学家、工程师和用户，以及对光学工程实际应用和普及技术有兴趣者。

网址：http://spie.org/

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